(57) Изобретение относится к области анализа сложных веществ ядерно-физическими способами. Задачей изобретения является повышение чувствительности и точности анализа в условиях изменчивости компонентного состава руд сложного состава. Инструментальный способ рентгенорадиометрического анализа руд сложного состава, основанный на его облучении гамма-излучением и регистрации рентгеновской флуоресценции определяемого элемента и рассеянного рудой гамма-излучения, отличающийся тем, что дополнительно на стандартных образцах руды с минимальной и максимальной концентрацией определяемого элемента измеряют энергетическое распределение вторичного от руды излучения, находят ширину энергетического окна DE₁ в области рентгеновской флуоресценции элемента, при которой обеспечивается минимальная относительная статистическая погрешность измерений, выраженная в долях концентрации определяемого элемента, а ширину энергетического окна DE_S в области рассеянного гамма-излучения выбирают такой, чтобы при изменении концентрации определяемого элемента обеспечивалась максимальная чувствительность отношения интенсивности рентгеновской флуоресценции элемента, измеренной при найденной ширине энергетического окна DE_i, к интенсивности рассеянного гамма-излучения, измеренной при выбранной ширине энергетического окна DE_S, а концентрацию определяемого элемента в руде сложного состава определяют по величине отношения интенсивности рентгеновской флуоресценции элемента, измеренной при найденной ширине окна DE_i, к интенсивности рассеянного гамма-излучения, измеренной при выбранной ширине окна DE_S. Технический результат изобретения состоит в повышении чувствительности анализа и расширении сферы применения способа за счет нахождения оптимальной ширины окна DE₁ в области рентгеновской флуоресценции элемента с точки зрения минимальной погрешности анализа и оптимальной ширины окна DE_S в области рассеянного гамма-излучения с точки зрения максимальной чувствительности величины отношения интенсивности рентгеновской флуоресценции определяемого элемента при DE_i к интенсивности рассеянного гамма-излучения при DE_S и определении концентрации элемента по величине отношения измеренных интенсивностей излучения.