(21)	201000088 (13) A1	Разделы: A B C D E F G H
(22)	2008.07.04
(51)	G01N 21/03 (2006.01) G01N 21/35 (2006.01)
(31)	07252720.3
(32)	2007.07.06
(33)	EP
(86)	PCT/GB2008/002319
(87)	WO 2009/007699 2009.01.15
(71)	БП ОЙЛ ИНТЕРНЕШНЛ ЛИМИТЕД (GB)
(72)	Томсон Алаздэр Айан (GB)
(74)	Веселицкая И.А., Пивницкая Н.Н., Кузенкова Н.В., Веселицкий М.Б., Каксис Р.А., Комарова О.М., Белоусов Ю.В. (RU)
(54)	ОПТИЧЕСКАЯ КЮВЕТА

(57) В заявке описан способ оптического анализа образца, в котором одну или более частот электромагнитного излучения (ЭМИ) направляют сквозь образец и на частично отражающую поверхность (9), которая пропускает и одновременно отражает направленное на нее ЭМИ (6), отраженное ЭМИ (12) направляется назад сквозь образец таким образом, что длина пути сквозь образец различна для прошедшего ЭМИ (10) и отраженного ЭМИ (12), и как прошедшее ЭМИ, так и отраженное ЭМИ детектируется одним или более детекторами (11,15), отличающийся тем, что оптическое поглощение образца на одной или более длинах волн ЭМИ вычисляют по разнице между прошедшим ЭМИ (10) и отраженным ЭМИ (12).