(57) Изобретение относится к технике измерений на сверхвысоких частотах, а именно к технике определения диэлектрической проницаемости материалов. Способ включает в себя определение действительной G и мнимой B составляющих эквивалентной нормированной проводимости при использовании волноводной системы с расположенным на выходе подвижным короткозамыкателем, имеющим волноводную камеру с диэлектрическим стерженьком, не заполненным или заполненным исследуемым материалом, и дальнейшего расчета значений комплексной диэлектрической проницаемости е и ее действительной e' и мнимой e" составляющих. Для нахождения значений G и B вместо скалярного используется векторный анализатор цепей. G и B находятся по формулам:

где

|S_и|, |S_о|, j_и, j_о - модули и фазы коэффициентов отражения, измеренные с помощью векторного анализатора цепей при заполнении исследуемым материалом стерженька и при незаполненном стерженьке соответственно; a_и=j_l-j_и/2; a_о=j_l-j_о/2; j_l=-p/2+pl/l _B; - длина волны в волноводе; l_о - длина волны в свободном пространстве; l - расстояние между стерженьком и плоскостью подключения подвижного короткозамыкателя.