(57) 1. Интерферометрический способ измерения коэффициента отражения СВЧ-устройства, заключающийся в том, что
исследуемое устройство подключают к порту подключения исследуемого устройства 6-портового измерительного рефлектометра;
формируют зондирующий сигнал с изменяющейся в заданном диапазоне частотой и подают сформированный зондирующий сигнал на порт зондирующего сигнала 6-портового измерительного рефлектометра и на вход исследуемого устройства;
отраженный от исследуемого устройства сигнал подают на порт подключения исследуемого устройства 6-портового измерительного рефлектометра;
формируют с использованием 6-портового измерительного рефлектометра четыре информационных сигнала;
детектируют сформированные информационные сигналы;
рассчитывают коэффициент отражения от исследуемого устройства на основе значений продетектированных сигналов,
отличающийся тем, что
дополнительно формируют опорный сигнал на частоте, соответствующей частоте зондирующего сигнала или частоте одной из его высших гармоник;
формируют опорный сигнал с изменяемой фазой путем изменения фазы сформированного опорного сигнала в зависимости от частоты зондирующего сигнала;
каждый информационный сигнал формируют путем сложения опорного сигнала с изменяемой фазой и одной из четырех линейно независимых комбинаций подаваемого на вход исследуемого устройства и отраженного от исследуемого устройства сигналов, снимаемой с одного из четырех портов информационных сигналов 6-портового измерительного рефлектометра.
2. Способ по п.1, отличающийся тем, что расчет коэффициента отражения от исследуемого устройства включает построение зависимостей каждого из четырех информационных сигналов 6-портового измерительного рефлектометра от частоты в диапазоне частот анализа исследуемого устройства, выделение зависимостей амплитуд переменных составляющих зависимостей каждого из четырех информационных сигналов 6-портового измерительного рефлектометра от частоты и использование выделенных зависимостей в качестве информационных сигналов 6-портового измерительного рефлектометра для вычисления коэффициента отражения от исследуемого устройства.

---