Бюллетень ЕАПВ "Изобретения (евразийские заявки и евразийские патенты)"
Бюллетень 03´2013

(21)

201290998 (13) A1 Разделы: A B C D E F G H

(22)

2011.03.28

(51)

G01N 21/958 (2006.01)

(31)

1052477

(32)

2010.04.01

(33)

FR

(86)

PCT/FR2011/050675

(87)

WO 2011/121219 2011.10.06

(71)

СЭН-ГОБЭН ГЛАСС ФРАНС (FR)

(72)

Пишон Мишель, Давенн Франк (FR)

(74)

Медведев В.Н. (RU)

(54)

СПОСОБ И УСТРОЙСТВО АНАЛИЗА ОПТИЧЕСКОГО КАЧЕСТВА ПРОЗРАЧНОЙ ПОДЛОЖКИ

(57) Это устройство (1) анализа прозрачной поверхности подложки (2) содержит миру (10), располагаемую напротив поверхности измеряемой подложки. Мира сформирована на носителе (11) с малой и большой протяженностью. Предусмотрена камера (3) для получения по меньшей мере одного изображения миры, деформированного измеряемой подложкой. С камерой (3) связаны система (4) освещения миры и средства (5) цифровой обработки изображения и анализа. Носитель (11) имеет вытянутую форму, мира является однонаправленной и представляет собой рисунок (10), расположенный вдоль наименьшей протяженности носителя. Рисунок (10) является периодическим поперечно к малой протяженности, и камера является линейной.

Увеличить масштаб


наверх