(57) 1. Способ проверки на подлинность люминесцентной проверочной метки (М-Р), содержащий этапы:
возбуждения люминесцентной проверочной метки (М-Р) с использованием по меньшей мере одного импульса (Р) возбуждения по меньшей мере одного источника (3, 31-36) возбуждения,
измерения проверочных значений (VP1-VPn) интенсивности (I) эмиссии при излучении (Е) эмиссии люминесцентной проверочной метки (М-Р) в ответ по меньшей мере на один импульс (Р) возбуждения, на временных интервалах (t1-tn),
формирования проверочной функции интенсивности эмиссии в зависимости от времени по указанным проверочным значениям (VP1-VPn) интенсивности,
сравнения проверочной функции интенсивности эмиссии в зависимости от времени по меньшей мере с одной эталонной функцией зависимости интенсивности эмиссии от времени,
причем перед сравнением нормируют проверочную функцию зависимости интенсивности эмиссии от времени и эталонную функцию зависимости интенсивности эмиссии от времени, при этом нормирование заключается в том, что значения интенсивности обеих функций эмиссии приводят к определенному масштабу так, чтобы наибольшие значения обеих кривых затухания совпадали по величине.
2. Способ по п.1, отличающийся тем, что измеряют характеристики эмиссии по меньшей мере одной люминесцентной проверочной метки (М-Р), которая представляет собой часть проверочного образца (7-Р), при этом характеристики эмиссии включают по меньшей мере одну длину волны возбуждения импульса (Р) возбуждения, по меньшей мере одну длину волны излучения (Е) эмиссии и проверочные значения (VP1-VPn) интенсивности (I) эмиссии пробы на временных интервалах (t1-tn) по меньшей мере для одной из указанных длин волн эмиссии.
3. Способ по п.1 или 2, отличающийся тем, что дополнительно содержит этап измерения конкретных характеристик эмиссии по меньшей мере одной эталонной люминесцентной метки (M-R), которая представляет собой часть эталонного образца (7-R), при этом конкретные характеристики эмиссии включают по меньшей мере одну длину волны возбуждения указанного импульса (Р) возбуждения, по меньшей мере одну длину волны эмиссии излучения (Е) эмиссии и эталонные значения (VR1-VRn) интенсивности (I) эмиссии на временных интервалах (t1-tn) по меньшей мере для одной из указанных длин волн эмиссии.
4. Способ по п.3, отличающийся тем, что записывают эталонные значения (VR1-VRn) интенсивности и/или по меньшей мере одну эталонную функцию зависимости интенсивности эмиссии от времени по меньшей мере в одном запоминающем устройстве (1c, 1d).
5. Способ по п.4, отличающийся тем, что указанную по меньшей мере одну эталонную функцию зависимости интенсивности эмиссии от времени записывают в нормированном виде и/или в ненормированном виде.
6. Способ по любому из предшествующих пунктов, отличающийся тем, что производят возбуждение люминесцентной проверочной метки (М-Р), или, соответственно, эталонной метки (M-R) с использованием по меньшей мере одного импульса (Р) возбуждения по меньшей мере одного источника (3, 31-36) возбуждения, который представляет собой лазер и/или светодиод.
7. Способ по любому из предшествующих пунктов, отличающийся тем, что производят возбуждение люминесцентной проверочной метки (М-Р) или, соответственно, эталонной метки маркера (M-R) с использованием по меньшей мере одного импульса (Р) возбуждения потока электронов.
8. Устройство проверки на подлинность люминесцентной проверочной метки (М-Р), содержащее
по меньшей мере один источник (3, 31-36) возбуждения;
по меньшей мере один детектор (4, 41, 42, 4b) для измерения проверочных значений (VP1-VPn) интенсивности (I) излучения эмиссии (Е) люминесцентной проверочной метки (М-Р) в ответ по меньшей мере на один импульс (Р) возбуждения, генерируемый по меньшей мере одним источником (3, 31-36) возбуждения на временных интервалах (t1-tn),
по меньшей мере один процессор (1), обеспечивающий возможность формирования проверочной функции зависимости интенсивности эмиссии от времени по проверочным значениям (VP1-VPn) интенсивности,
сравнения проверочной функции зависимости интенсивности эмиссии от времени по меньшей мере с одной эталонной функцией зависимости интенсивности эмиссии от времени, и
нормирования проверочной функции зависимости интенсивности эмиссии от времени перед сравнением с эталонной функцией зависимости интенсивности эмиссии от времени, при этом нормирование заключается в том, что значения интенсивности обеих функций эмиссии приводят к определенному масштабу так, чтобы наибольшие значения обеих кривых затухания совпадали по величине.
9. Устройство по п. 8, отличающееся тем, что содержит по меньшей мере одно запоминающее устройство (1c, 1d) для записи эталонных значений (VR1-VRn) интенсивности (I) эмиссии на временных интервалах (t1-tn), по меньшей мере, для излучения (Е) эмиссии на одной длине волны эталонной люминесцентной метки (M-R) и/или для записи по меньшей мере одной эталонной функции зависимости интенсивности эмиссии от времени, сформированной по эталонным значениям (VR1-VRn) интенсивности.
10. Устройство по любому из пп.8, 9, отличающееся тем, что содержит по меньшей мере один источник (3, 31-36) возбуждения.
11. Устройство по любому из пп.8-10, отличающееся тем, что по меньшей мере один детектор (4) содержитселектор (4а') длины волны.12. Устройство по любому из пп.8-11, отличающееся тем, что поменьшей мере один детектор (4, 41, 4b) преобразует интенсивность (I) эмиссии в электрические сигналы проверочных значений (VP1-VPn) интенсивности и, соответственно, электрические сигналы эталонных значений (VR1-VRn) интенсивности, при этом по меньшей мере один процессор (1) производит выборку электрических сигналов для формирования проверочной функции зависимости интенсивности эмиссии от времени по проверочным значениям (VP1-VPn) интенсивности и, соответственно, для формирования эталонной функции зависимости интенсивности эмиссии от времени по эталонным значениям (VR1-VRn) интенсивности.
13. Устройство в соответствии с любым из пп.8-12, отличающееся тем, что содержит по меньшей мере один спектрометр для выделения по меньшей мере двух длин волн эмиссии, причем по меньшей мере один детектор (4b) представляет собой матричный фотодетектор, предназначенный для измерения излучения (Е) эмиссии на двух или нескольких длинах волн эмиссии, позволяя производить одновременное измерение значений (VP1-VPn) интенсивности для излучения (Е) эмиссии люминесцентной проверочной метки (М-Р), и, соответственно, одновременное измерение эталонных значений (VR1-VRn) интенсивности излучения (Е) эмиссии эталонной люминесцентной метки (M-R).
14. Устройство по п.13, отличающееся тем, что по меньшей мере один матричный фотодетектор (4b) представляет собой двумерную матрицу ПЗС, в которой первый ряд светочувствительных элементов (PIX) работает как матричный фотодетектор, а остальные ряды элементов работают как первичное устройство накопления спектральной информации в функции от времени в процессе сдвига строк.
15. Система защиты для проверки на подлинность люминесцентной проверочной метки (М-Р), содержащая
устройство, выполненное в соответствии с любым из пп.8-14,
по меньшей мере один эталонный образец (7-R), содержащий по меньшей мере одну эталонную люминесцентную метку (M-R), предназначенную для измерения эталонных значений (VR1-VRn) интенсивности (I) излучения на временных интервалах (t1-tn) по меньшей мере на одной длине волны излучения эмиссии (Е) эталонной люминесцентной метки (M-R), и
по меньшей мере один проверочный образец (7-Р), содержащий по меньшей мере одну люминесцентную проверочную метку (М-Р), предназначенную для измерения проверочных значений (VP1-VPn) интенсивности (I) эмиссии на временных интервалах (t1-tn) по меньшей мере для одной длины волны излучения (Е) эмиссии люминесцентной проверочной метки (М-Р) пробы.
16. Система защиты по п.14, отличающаяся тем, что по меньшей мере один из проверочных образцов (7-Р) представляет собой часть чернил и/или состава покрытия изделия (7), проверка подлинности которого производится.
17. Система защиты по п.14, отличающаяся тем, что по меньшей мере один из проверочных образцов (7-Р) содержится в массе материала изделия (7), проверка подлинности которого производится.
|