(57) 1. Устройство для измерения пороков, вызывающих искажение, в произведенной полосе флоат-стекла, имеющее построчный, просвечивающий ширину подлежащей исследованию полосы (4) стекла снизу, утопленный в пол СИД-источник (5) света, имеющий расположенные вплотную друг к другу СИДы, при этом утопленный в пол СИД-источник (5) света наклонен под острым углом к исследуемой плоскости;
расположенную линейно, параллельно всей длине утопленного в пол СИД-источника (5) света, цилиндрическую линзу (8), расстояние от которой до утопленного в пол СИД-источника (5) света является плавно регулируемым, при этом она расположена под полосой (4) стекла в плоскости хода лучей между утопленным в пол СИД-источником (5) света и системой камер;
расположенный над полосой (4) стекла источник (2) света, причем он наклонен под острым углом, измеренным от вертикали в исследуемой плоскости, к той же стороне, что и утопленный в пол СИД-источник (5) света;
расположенную над полосой (4) стекла ПЗС-камеру, при этом объектив этой камеры выборочно может быть оснащена щелевой диафрагмой (16), измерительной диафрагмой (18) и/или дихроичным и/или трихроичным фильтром; блок двухступенчатой параллельной аналитической обработки сигнала, при этом битовые отображения из всех каналов обрабатываются параллельно и одновременно учитываются другие данные производственной линии, отличающееся тем, что:
a) по меньшей мере 4 камеры расположены над полосой (4) стекла,
b) СИДы представляют собой СИДы (11) с длиной волны, которая соответствует зеленому цвету, и СИДы (12) с длиной волны, которая соответствует синему цвету, и
c) утопленный в пол СИД-источник (5) света и ПЗС-камеры (1) находятся относительно подлежащей исследованию полосы (4) стекла друг напротив друга и по своей оптической соединительной оси наклонены друг относительно друга так, что они защищаются от повреждения посредством расположенной по площади перед ними нижней защиты (6) источника света и посредством расположенной по площади перед ними верхней защиты (3) источника света.
2. Способ измерения пороков, вызывающих искажение, в произведенной полосе флоат-стекла устройством по п.1, имеющий следующие признаки:
a) подлежащую исследованию полосу (4) стекла облучают посредством построчного, просвечивающего ширину подлежащей исследованию полосы (4) стекла снизу, утопленного в пол СИД-источника (5) света, имеющего расположенные вплотную друг к другу СИДы, при этом применяют по меньшей мере 2 вида СИДов с различной длиной волны в любой последовательности, и утопленный в пол СИД-источник (5) света наклонен под острым углом к исследуемой плоскости;
b) посредством устройства расположенной линейно, параллельно всей длине утопленного в пол СИД-источника (5) света, цилиндрической линзы (8), расстояние от которой до утопленного в пол СИД-источника (5) света является плавно регулируемым, при этом она расположена под полосой (4) стекла в плоскости хода лучей между утопленным в пол СИД-источником (5) света и системой из 4 расположенных в ряд ПЗС-камер (1) над полосой (4) стекла, ход луча фокусируют так, что осуществляется точечное отображение СИДа в плоскости измерения ПЗС-камеры (1), расположенной над полосой (4) стекла; и
c) во время прохождения полосы (4) стекла осуществляют двухступенчатую параллельную аналитическую обработку сигнала, при этом битовые отображения из всех каналов обрабатывают параллельно и одновременно учитывают другие данные производственной линии.
3. Способ по п.2, отличающийся тем, что применяют СИДы с длиной волны, которая соответствует зеленому цвету, и СИДы с длиной волны, которая соответствует синему цвету.
4. Способ по п.2 или 3, отличающийся тем, что утопленный в пол СИД-источник (5) света и ПЗС-камеры (1) находятся относительно подлежащей исследованию полосы (4) стекла друг напротив друга и по своей оптической соединительной оси наклонены друг относительно друга так, что они надежно защищаются от повреждения посредством расположенной по площади перед ними нижней защиты (6) источника света и посредством расположенной по площади перед ними верхней защиты (3) источника света.

---